| 型号：SN74BCT8374ADW | 类别：逻辑 - 专用逻辑 | 制造商：Texas Instruments |
| 封装：24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 描述：IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | |
详细参数
| 类别 | 逻辑 - 专用逻辑 |
|---|---|
| 描述 | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC |
| 系列 | 74BCT |
| 制造商 | Texas Instruments |
| 逻辑类型 | 扫描测试设备，带 D 型边沿触发式触发器 |
| 电源电压 | 4.5 V ~ 5.5 V |
| 位数 | 8 |
| 工作温度 | 0°C ~ 70°C |
| 安装类型 | 表面贴装 |
| 封装/外壳 | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） |
| 供应商器件封装 | 24-SOIC |
| 包装 | 管件 |
供应商
| 深圳市正信鑫科技有限公司 | 小邹0755-22655674/15099917285 |
| 深圳市芯脉实业有限公司 | 骆0755-84507209 |
| 深圳市旺财半导体有限公司 | 李先生86-83209217 |
| 深圳市展鹏富裕科技有限公司 | 陈丹0755-82573702 |
| 深圳市合一方科技有限公司 | 陈先生13480301972 |
| 深圳市恒天华科技有限公司 | 邓0755-83793312 |
| 深圳市珩瑞科技有限公司 | 李小姐86-0755-82578309/18898790342 |
| 深圳市华斯顿电子科技有限公司 | 朱咸华0755-83777708/83777607/82799993 |
| 深圳市芯福林电子科技有限公司 | 张女士0755-82574045 |
| 深圳市正信鑫科技有限公司 | 小邹0755-22655674/15099917285 |
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